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RFID产品老化试验-可靠性测试必备----低分值下载

资料名称:JEDEC

STANDARD

Early Life Failure Rate Calculation

Procedure for Semiconductor

Components

JESD74A

(Revision of JESD74, April 2000)

资料整理:请补充...

制作时间:请补充...

内容简介:看那位20分下载老兄的帖子吧。。。

文件名:533bf094-b6e7-46a3-8074-eac603f3230e.pdf已下载:351次