RFID产品老化试验-可靠性测试必备----低分值下载
资料名称:JEDEC
STANDARD
Early Life Failure Rate Calculation
Procedure for Semiconductor
Components
JESD74A
(Revision of JESD74, April 2000)
资料整理:请补充...
制作时间:请补充...
内容简介:看那位20分下载老兄的帖子吧。。。
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Components
JESD74A
(Revision of JESD74, April 2000)
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